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根据透射电镜显像来说高效送风口的内部构造
为了获得相关高效送风口物质部分构造的真实信息，透射电镜显像（ScanningElectron Microscopy，SEM）以能对原材料的编码序列横断面开展显像科学研究而得到广泛应用。
透射电镜浓缩了光电子器件技术性、真空设备、细致机械系统及其当代计算机控制技术。透射电镜要在加快髙压功效下将射线管发送电子通过多级别电磁透镜汇聚成微小的离子束。
在试件部位进行扫描仪，激发起所有信息，根据对这些数据的接受、变大和表明显像，便于对试件表层展开分析。
出射电子与信息试件相互影响产生不同的信息内容类型。这些数据的二维强度分布随试件表层的特点变化(这些特征有表面形貌、成份、结晶趋向、电磁感应特点等)，是把各种各样探测仪收集的信息内容按序、成比例地转化成视频流，再输送到同歩扫描仪的显象管并调配其色度，可以获得一个反映试件表层情况的扫描图.如果把探测仪接收的数据信号开展智能化解决即转化成模拟信号，就需要由电子计算机做的解决和存储。
对任意构造的化学纤维高效送风口气-固气固两相流场展开了模拟计算，其中对颗粒物相解决使用了软件开发平台Fluent中离散变量颗粒物实体模型，任意构造由透射电镜（SEM）技术性来决定。
可是运用SEM技术对高效送风口内部构造予以处理也会存在两个方面缺点：先SEM方式自身的局限促使此项技术性用于高效率高效送风口行业并不合适，即：为了能对构造开展扫描仪，高效送风口物质务必被切割成许多块，那样必定会损害高效送风口内部构造，进而影响模型结构信息真实性；
次之，SEM科技的屏幕分辨率也无法达到高效送风口介质测试标准，并且所解决样本的规格就会受到限定。
室送风口